الزامات منتشرشده برای این کد؛ هر کدام را یک نفر با منبع رسمی‌اش بررسی کرده است.
اتحادیهٔ اروپا۲ الزام، ۲ اجباری
سند
متن کامل هر الزام با منبعش، با حساب رایگان دیده می‌شود.حساب رایگان بسازید
کد
کد نامگذاری ترکیبی اتحادیهٔ اروپا (۸ رقم)
GTİP 9030.31.00
Multimeters for voltage, current, resistance or electrical power, without recording device
نام رسمی ترکی: Multimetreler (kaydedici tertibatı olmayanlar)
ترجمه‌ی ماشینیاین عنوان‌ها ترجمه‌ی ماشینی متن‌های رسمی انگلیسی‌اند؛ مرجع، عنوان‌های رسمی ترکی و انگلیسی است.
جایگاهش در تعرفه
فصل 90ابزارها و دستگاه‌های نوری، عکاسی، سینمایی، اندازه‌گیری، کنترل، پزشکی یا جراحی؛ قطعات و لوازم جانبیOptical, photographic, cinematographic, measuring, checking, medical or surgical instruments and apparatus; parts and accessories
سرفصل ابزارها و دستگاه‌ها برای اندازه‌گیری یا بررسی کمیت‌های الکتریکی، به جز کنتورهای شماره 9028؛ ابزارها و دستگاه‌ها برای اندازه‌گیری یا تشخیص پرتوهای آلفا، بتا، گاما، اشعه ایکس، کیهانی و سایر پرتوهاInstruments, apparatus for measuring, checking electrical quantities not meters of heading no. 9028; instruments, apparatus for measuring or detecting alpha, beta, gamma, x-ray, cosmic and other radiations
زیرسرفصل مولتی‌متر‌ها؛ برای اندازه‌گیری یا کنترل ولتاژ، جریان، مقاومت یا توان (به جز آن‌هایی که برای اندازه‌گیری یا کنترل ویفرها یا قطعات نیمه‌رسانا به کار می‌روند)، بدون دستگاه ثبت
ترکیه در سال ۲۰۲۵ از HS 9030.31 به ارزش € ۱٫۳۶ میلیون صادر کرد: رتبهٔ ۲٬۹۳۰ از ۵٬۱۳۲ زیرسرفصل.
منبع: Eurostat، Comext DS-059341 (ارقامی که ترکیه اعلام کرده است). این رتبه‌بندی را بیرلشا از ارقام Eurostat حساب کرده است و Eurostat مسئولیتی در قبال آن ندارد.
بر پایهٔ مساحت غرفه به متر مربع، حداکثر 5 نمایشگاه در سال (10 نمایشگاه برای شرکت‌کنندگان و تولیدکنندگانی که بخشنامه تعیین می‌کند). 70% در کشورهای هدف وزارت و 75% در کشورها و بخش‌های هدف آن.
سقف‌های سال ۲۰۲۶
نمایشگاه‌های عمومی: TRY ۷۳۸٬۵۶۳ برای هر نمایشگاه
نمایشگاه‌های بخشی: TRY ۱٬۲۳۱٬۸۴۸ برای هر نمایشگاه
نمایشگاه‌های معتبر: TRY ۳٬۶۹۸٬۲۷۴ برای هر نمایشگاه
Multimeters; for measuring or checking voltage, current, resistance or power (other than those for measuring or checking semiconductor wafer or devices), without a recording device
